檢測價(jià)格
面議
檢測資質(zhì)
CMA/CNAS
晶粒度表示晶粒尺寸大小的尺度。金屬的晶粒大小對金屬的許多性能有很大的影響。晶粒度的影響,實(shí)質(zhì)是晶界面積大小的影響。晶粒越細(xì)小則晶界面積越大,對性能的影響也越大。對金屬的常溫力學(xué)性能來說,一般是晶粒越細(xì)小,則強(qiáng)度和硬度越高,同時(shí)塑性和韌性也越好。
測定平均晶粒度的基本方法
一般情況下測定平均晶粒度有三種基本方法:比較法、面積法、截點(diǎn)法。具體如下:
1、比較法:比較法不需要計(jì)算晶粒、截距。與標(biāo)準(zhǔn)系列評(píng)級(jí)圖進(jìn)行比較,用比較法評(píng)估晶粒度一般存在一定的偏差(±0.5級(jí))。評(píng)估值的重現(xiàn)性與再現(xiàn)性通常為±1級(jí)。
2、面積法:面積法是計(jì)算已知面積內(nèi)的晶粒個(gè)數(shù),利用單位面積晶粒數(shù)來確定晶粒度級(jí)別數(shù)。該方法的精確度在于計(jì)算晶粒度的函數(shù),通過合理計(jì)數(shù)可實(shí)現(xiàn)±0.25級(jí)的精確度。面積法的測定結(jié)果是無偏差的,重現(xiàn)性小于±0.5級(jí)。面積法的晶粒度關(guān)鍵在于晶粒界面明顯劃分晶粒的計(jì)數(shù)。
3、截點(diǎn)法:截點(diǎn)數(shù)是計(jì)算已知長度的試驗(yàn)線段(或網(wǎng)格)與晶粒界面相交截部分的截點(diǎn)數(shù),利用單位長度截點(diǎn)數(shù)來確定晶粒度級(jí)別數(shù)。截點(diǎn)法的精確度在于計(jì)算截點(diǎn)數(shù)和截距的函數(shù),通過有效的統(tǒng)計(jì)結(jié)果可達(dá)到±0.25級(jí)的精確度。截點(diǎn)法的測量結(jié)果是無偏差的,重現(xiàn)性和再現(xiàn)性小于±0.5級(jí)。對于同一精度水平,截點(diǎn)法由于不需要精確標(biāo)記截點(diǎn)和截距數(shù),因而較面積法測量快。
材料組織結(jié)構(gòu)分析是揭示材料性能與材料成分、工藝措施間內(nèi)在規(guī)律的重要手段和橋梁。
化學(xué)成分、原子集合體的結(jié)構(gòu)以及內(nèi)部組織是決定金屬材料性能的內(nèi)在基本因素。當(dāng)化學(xué)成分給定時(shí),金屬材料的一類性能,對結(jié)構(gòu)組織的變化反映很敏感。而這類性能有屈服強(qiáng)度、抗拉強(qiáng)度、斷裂強(qiáng)度、硬度、韌性、伸長率、面縮率、滯彈性、蠕變、鐵磁性等。
通過對組織結(jié)構(gòu)分析,來指導(dǎo)生產(chǎn)實(shí)踐和科學(xué)研究,以便于更充分有效的發(fā)揮現(xiàn)有金屬材料的潛力,并進(jìn)而研發(fā)新的金屬材料。